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首页 >>> 产品目录 >>> 德国FRT公司三维轮廓纳米测量仪 粗糙度 平面度 翘曲度 >>> 膜厚测量仪   更详细的产品分类 产品图片 产品名称/型号 产品简单介绍 FRT薄膜厚度测量仪 MicroProf FTR FRT薄膜厚度测量仪采用膜层厚度测量传感器，非接触测量表面膜层，测量范围从10nm--250um，广泛应用于半导体晶片、光学镀膜加工、漆膜、氧化表面层测量。

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