德国UHL精密测量显微镜特点：
精密测量显微镜之模块式设计－满足每一个用户的需求
工业：机器设备制造，汽车工业，航空航天，电子半导体，精密机械，光学，医学
研 究：科研工程和高等院校
实验室：检验和鉴定实验室，刑事技术实验室
应用：质量控制，零件加工，产品研发，工具制造，成型制造，材料技术
检验：张力和非张力产品，弯曲和冲压零件，喷铸零件，电机和驱动零件，螺纹，刀具，电子器件，教学，光栅尺，医学组织
功能：长度和角度测量，轮廓测量，膜层厚度测量，材料分析，材料断裂分析
材料：金属，塑料，陶瓷，玻璃，橡胶
精密测量显微镜之基本机械结构：
沉稳结实的铸铁机身
极高的测量稳定性，受温度变化极小
极稳定的测量台，滚柱轴承导轨
可靠的工作台承受
测量台测量范围（X/Y）：150X100，250X150 mm
测量台快速定位，解除锁定，可手动任意移动和便捷精调测量台，可选电机驱动测量台
精密测量显微镜之测量系统：
光电测量系统，增量钢质光栅尺，分辨率 0.0001 mm
可选择Z-轴数字测量系统，测量范围 150 mm
极小的误差保证高精度测量
PTB认可的标定标准，按照VDI/VDE 2617 验证的定位精度
精密测量显微镜之光学系统：
远焦平场TELEPLAN测量物镜用于长度和形状测量
显微荧光物镜PLAN FLUOR 用于表面分析，如金相分析
远心光路的物镜意味着，即使没有聚焦在被测零件上，所成像的大小也不改变- 这是保证高精密测量**必要的前提。
物镜具有*高的光学质量，**的校正，平场无畸变的成像–所有物镜由徕卡LEICA设计
大的工作距离适合测量高的零件
物镜更换便捷，物镜转盘接口
摄像头接口，用于图象处理
双目观察
明场和暗场图象观察，可选偏振光源，相差干涉条纹对比（DIC）
光源：
外部卤素冷光源 30 – 250W
光纤导线
照明方式：透射，反射，倾斜照明和环形照明
金相分析：明场，暗场，干涉条纹对比和偏振
OMS/IMS 测量软件
OMS 测量软件灵活易学, 2，3维测量, 与手动或电动测量显微镜连接使用.
适合实验室或生产环境使用, 测量原始样本,批量测量.