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原子力显微镜


如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称: 原子力显微镜
产品型号: AFM
产品展商: 德国FRT公司
简单介绍
原子力显微镜 AFM 是利用测量探针与样品之间的作用力,进行纳米级的*高精度扫描分析。 除了表面形貌还可以采用不同的测量模式分析材料的其他特性。扫描范围从20um×20um到80um×80um。 可应用于半导体行业、汽车制造、皮革工业、造纸工业、生物学、聚合物、MEMS等 我们的客户名单上有众多的世界有名企业。

原子力显微镜

的详细介绍

 原子力显微镜
 

  原子力显微镜原子力显微镜

原子力显微镜原子力显微镜  原子力显微镜

                    原子力显微镜    用于半导体行业的测量
 

X,Y测量范围:  20umX20um;   40umX40um;   80umX80um                                                    

Z测量范围:        2um        4um        6um                                                                          

X,Y分辨率:          0.1nm                                                                         

Z分辨率:            0.01nm

       原子力显微镜 (AFM)通过一个微小尺寸

悬臂上的精密尖头对样品进行表面扫描
 
尖头和样品表面原子间的相互作用力会使
悬臂位置发生轻微偏离,接着压阻
元件探测到该变化,从而被测量,基于
这个影响, AFM 可以高分辨率地测量
表面形貌及粗糙度,属于无损测量
 
 
AFM 可以使用不同的操作模式,因此可
以用来研究更多的性能, 比如样品的静电
力、磁力或者弹力。
 
 
特色: 
测量性能
高分辨率表面形貌测量
尖头自动靠近被测样品表面
样品表面取样通过压阻感应元件
接触测量模式、非接触测量模式
静电力和磁力特性的测量
measurement of electrical and magnetic properties,
侧力及弹力测量 lateral forces and elasticity*1
液态测量measurement in liquids*2
更多操作模式可选
*1 contact mode in basic version, additional modes upon request
*2 optional
 
 Atomic Force Microscopy
 
 
Surface Characterization表面特性
Very High Resolutions极高分辨率

典型应用: 
 
微型工业技术的质量保证
纳米亚纳米级粗糙度测量
硅片及光学器件表面测量 range
生物标本表面特征
纳米结构测量
医学样品表面特征研究medical samples,
e.g. protheses, catheters or stents
应用于材料科学中检测橡皮圈, 磁性工件等

AFM measuring head
测量头
control unit 控制器件;传感器安装在电动台
sensor mount with motor-driven z-stage
software, operating manual 测量软件操作手册
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